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Poids de l’Open access dans la production CNRS

Titre
On the Fault Coverage of High-level Test Derivation Methods for Digital Circuits
Identifiant WoS
WOS:000412127000042
Accès ouvert
OA - Inconnu
Source - Accès ouvert
OA - Inconnu
Type d'accès
Inconnu
Editeur

Inconnu

Source

INTERNATIONAL CONFERENCE OF YOUNG SPECIALISTS ON MICRO/NANOTECHNOLOGIES AND ELECTRON DEVICES (EDM)

ISSN
2325-4173
Type de document
  • Meeting Abstract
Notoriété
0 - Sans notoriété
CNRS
Oui
CNRS - Institut
  • INS2I - Institut des sciences de l'information et de leurs interactions
uid:/37WLZSTD
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